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SIGMA KOKI CO.,LTD.
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マイケルソン干渉計 IFS-MI-25

マイケルソン干渉計は、図中の光路L1とL2の光路差を利用した干渉計です。
L1とL2の距離を同一にしておき、光路差を与えると、光路差1/4波長につき円形の干渉縞がひとつ動きます。
  光路図
記号 コンポ名 数量
 L  レーザ 1
 SF  スペイシャルフィルター 1
 CL  コリメートレンズ 1
 BS  ビームスプリッター 1
 M  ミラー 2
 SC  スクリーン 1

特長

非常に広い応用性があり、微小測長、光波長及び波長比の測定、屈折率、分散率の測定、表面粗さ、薄膜の測定等、幅広く用いられています。

ポイント

光路を分割しますので、空気の対流など、被測定物以外で光路差が発生しないよう注意してください。


こんなところが SIGMA KOKI

フェムト秒レーザを利用したアプリケーションは、帯域幅が広いためミラー媒質による分散の影響でパルス幅が広がってしまいます。
このため、安定した製品の供給には精密な分散制御技術が欠かせません。
マイケルソン干渉計を応用した分散測定装置と、シグマ光機の蒸着技術により、フェムト秒パルスの圧縮に最も適した負分散ミラー(GFMシリーズ)を製品化しラインナップしています。
  応用例(光素子分散測定装置)

シグマ光機株式会社
東京本社営業部 東京都墨田区緑1-19-9
TEL.03-5638-6551 FAX.03-5638-6550 sales@sigma-koki.com
大阪支店 大阪市淀川区西中島4-9-28
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